Objectifs:

• utiliser les principales méthodes de caractérisation des matériaux adaptées et optimisées pour l'étude des surfaces, des interfaces, des nanomatériaux et des nanostructures,
• analyser les informations accessibles par les différentes techniques physiques,
• décrire les potentialités et les limitations des diverses techniques.

Public:

Ingénieurs ou techniciens supérieurs :

• travaillant dans le domaine des micro et nanotechnologies au sein de laboratoires publics ou industriels,
• confrontés à la résolution de problèmes liés à la maîtrise à l'échelle nanométrique des propriétés des matériaux lors de leur élaboration et/ou leur intégration dans des dispositifs.

Contenu:

Après un rappel des techniques de base utilisées pour la caractérisation des matériaux d'un point de vue physico-chimique, un éclairage particulier est donné pour le cas des surfaces, des interfaces, des nanomatériaux et des nanostructures. Les principes, les variantes instrumentales, les limites et complémentarités avec d'autres techniques sont développés. Chaque technique fait l'objet d'une présentation détaillée - principes, mode de fonctionnement et domaines d'application - illustrée par une démonstration. Chaque séance de démonstration se compose de la présentation proprement dite de l'équipement et d'études de cas (sur proposition des stagiaires) qui seront menées en petits groupes.

Techniques étudiées:

• spectroscopies Auger (AES) et de photoélectrons (UPS-XPS),
• microscopies à force atomique (SPM),
• diffraction des rayons X (DRX),
• ellipsométrie spectroscopique (ES),
• spectrophotométrie infrarouge (FTIR),
• analyse par émission ionique secondaire (SIMS et APT),
• analyse par diffusion d'ions  (RBS/MEIS & Co),
• microscopie électronique à balayage (MEB),
• microscopie électronique en transmission (MET),
• préparation d'échantillons.