Cette technique permet de déterminer la taille et la morphologie des nanoparticules. Elle est basée sur l’interaction entre l’échantillon et un faisceau d’électrons. Le MET couvre une gamme de mesure variant de 1 nm à 1 µm.
L’analyse a postériori de particules collectées sur substrats peut être aussi réalisée par MEB (“Microscopie électronique à balayage”), SFX (“Spectrométrie de fluorescence des rayons X”),…