La Microscopie à Balayage Electronique (MEB) donne des informations sur la morphologie des tubes. La Microscopie Electronique à Transmission (MET), quand à elle, précise l'agencement de la structure cristalline.
La Microscopie à Force Atomique (AFM) fournit des indications sur la conductivité électrique d'une nanostructure perpendiculaire au support, ou sur la topographie de la structure dans le cas de tubes détachés et déposés sur une surface. Une manipulation non maîtrisée de la pointe AFM peut détériorer les structures et disséminer quelques nanoparticules.